نقشه برداری از داخل اشیا با اشعه ایکس+ عکس

به گزارش افکارنیوز ، محققان دپارتمان انرژی آزمایشگاه ملی بروکهاون با همکاری دانشکده مهندسی و علوم کاربردی دانشگاه کلمبیا و دانشگاه منچستر نوع جدیدی از دید اشعه ایکس (X-ray vision) را توسعه داده اند.

با کمک این روش امکان نفوذ بداخل دستگاه ها برای نقشه برداری از نانو ساختارهای داخلی و خواص ترکیبات مختلف، حتی نظارت بر اثرگذاری خواص اجزا بر عملکرد دستگاه فراهم می شود.

این روش ترکیبی از اشعه ایکس با شدت بالا برای درک ساختارها در مقیاس نانو با برش مقطعی از دستگاه برای آگاهی از محل دقیق اجزای نانو ساختار است.


نوع جدید دید اشعه ایکس، فرصت های جدیدی برای تحقیقات در حوزه علوم مواد، مواد زیستی، زمین شناسی، علوم زیست محیطی و سلامت ایجاد می کند.

پروفسور «رابرت کرنیک» از محققان دانشگاه منچستر تأکید می کند: این روش نوین تصویربرداری یکی از مهمترین دستاوردهای حوزه میکرو توموگرافی اشعه ایکس در ۳۰ سال اخیر است.

به گفته «کرنیک» ، با کمک این روش قادر به تصویربرداری در یک روش غیر تهاجمی و بدون تخریب شیء، برای نمایش نانو خواص فیزیکی و شیمیایی آن خواهیم بود.

جزئیات توسعه این روش نوین تصویربرداری در مجله Nature Communications منتشر شده است.